0 引言
Flash A/D转换器满足高速高精度,可以实现GS/s的水平,主要用于军工设计,例如雷达、卫星通信等[1]。ΣΔA/D转换器满足低速高精度,主要用于音频领域。流水线A/D转换器满足高速高精度,可以实现500 MS/s水平,主要应用于高速仪表、视频领域、网络系统。积分型A/D转换器满足中等速度中等精度,主要用于低速仪表。逐次逼近ADC(SAR ADC)满足中等速度中等精度,并且具有功耗低、面积小、复杂度低、易于集成SoC等优势,被广泛应用在数据采集、工业控制[1-2]。
提高转换速率可以通过增加比较器个数、采用异步控制等,但往往伴随功耗和面积的更多开销。随着位数增加,传统结构的DAC面积呈指数增加,可以改变分段结构来降低面积。为了降低失调,许多文章提到采用全差分结构配合混合切换[3],然而相比单端结构会消耗更大的面积和功耗。在降低功耗上,有人通过采用动态比较器,但动态比较器带来更大的失调,需要更为复杂的修调算法补偿[4]。
综上,本文采用CR分级、温度计码、自举开关、前置放大技术克服如上提到的缺点。
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作者信息:
邓玉清1,牛洪军2
(1.中科芯集成电路有限公司,江苏 无锡214035;2.无锡翼盟电子科技有限公司,江苏 无锡214035)

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