0 引言
系统级封装(System in Package,SiP)是利用先进封装技术将不同功能的芯片集成在一个微系统内,具备小型化、低功耗和高性能等优势,已成为半导体行业关注的重要焦点之一[1-4]。SiP中经常集成高频率高带宽的DDR3系统来实现存储功能,但是与传统PCB不同,基于SiP封装的高密度互联DDR3的复杂性设计带来的信号完整性问题日益严重[5-8]。除了单纯从信号的眼图和波形来判断信号质量外,DDR3的设计还面临着严格的时序要求,即使信号波形达到JEDEC协议中规定的判决标准,数据与选通信号、地址与时钟信号等之间的时延也不一定符合协议规范,DDR3的接口时序分析成为DDR3设计的重中之重[9-10]。
基于SiP封装的DDR3设计一旦出现问题,再重新投产会造成时间和成本的浪费,为了解决这一问题,引入了仿真的概念。根据产品不同设计阶段分为前仿真和后仿真,分别针对产品布线前和布线后[11-12]。本文主要针对后仿阶段,从一例实际SiP项目中的DDR3封装和基板设计着手,进行数据与选通、地址与时钟之间的时序仿真,通过仿真结果分析其信号薄弱点,结合该项目各方面情况提出优化方案,经过仿真迭代,使信号符合JEDEC协议规范,为SiP 的DDR3时序仿真和优化提供很好的借鉴和指导作用。
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作者信息:
王梦雅,曾燕萍,张景辉,周倩蓉
(中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡214035)

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