0 引言
在低温等离子体诊断领域,Langmuir单探针方法由于结构简单、测量范围大和结果可靠而被广泛应用。目前以单片机为主控芯片的传统诊断设备采样率较低,一般不超过400 kS/s[1],甚至只有38 kS/s[2],这些设备的ADC数据接口通常采用SPI或I2C,数据传输能力有限,而且数据处理大多依赖软件设计,难以满足现在高速、高精度、长时间和大容量的测量要求[3]。准确高效地获取这些数据对等离子体特性的研究有重要意义。
为了提高诊断结果的准确性,需要采集大量的实验数据。本文提出了一套基于FPGA的四通道数据采集硬件系统,每通道采样率为65 MS/s,硬件中的ADC与FPGA之间采用高速LVDS信号进行数据传输,并且完成了基于.net框架下WPF技术的上位机可视化软件开发,实现了高速、大容量的数据采集、处理和显示。该系统可以由上位机灵活控制并长期稳定运行。
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作者信息:
简志景1,2,梁 昊1,2
(1.中国科学技术大学 核探测与核电子学国家重点实验室,安徽 合肥230026;
2.中国科学技术大学 近代物理系,安徽 合肥230026)
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