基于SoC的数模混合验证的平台实现方法
电子技术应用
李密,徐荣文,陈旭江,张鑫全
小华半导体有限公司
摘要: 目前集成电路的模拟电路在SoC(System on Chip)验证期间大多采用行为级模型(behavior model)的形式进行基本的连接性的验证。但随着当今世界在集成电路方面的电路的复杂度越来越高,规模越来越大,SoC或者MCU集成的模拟模块也越来越多,越来越复杂,数模验证的复杂度剧增。基于上述问题,致力于开发一种基于SoC的数模混合验证DMS(Digital Mixed-Signal models)的平台实现方法,以解决芯片级数模交互的功能、时序、低功耗功能、低功耗指标等只能等到回片测试才能检验的正确性,提升验证的完备性等。
中图分类号:TN402 文献标志码:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.256960
中文引用格式: 李密,徐荣文,陈旭江,等. 基于SoC的数模混合验证的平台实现方法[J]. 电子技术应用,2026,52(3):61-64.
英文引用格式: Li Mi,Xu Rongwen,Chen Xujiang,et al. Implementation method of SoC-based digital mixed-signal verification platform[J]. Application of Electronic Technique,2026,52(3):61-64.
Implementation method of SoC-based digital mixed-signal verification platform
Li Mi,Xu Rongwen,Chen Xujiang,Zhang Xinquan
Xiaohua Semiconductor Co., Ltd.
Abstract: At present, most of the analog circuits of integrated circuits are verified in the form of behavior models during SoC (System on Chip) verification. However, as the complexity and scale of circuits in integrated circuits in the world become higher and larger, there are more and more analog modules integrated by SoCs or MCUs, which are becoming more and more complex, and the complexity of digital-analog verification has increased dramatically. Based on the above problems, we are committed to developing a platform implementation method for Digital Mixed-Signal (DMS) verification based on SoC, so as to solve the correctness of the functions, timing, low-power functions, and low-power indicators of chip-level digital-analog interaction that can only be verified by waiting for the return test, and improve the completeness of verification.
Key words : behavior model;digital mixed-signal models verification;DMS;completeness

引言

目前集成电路的模拟电路在SoC(System on Chip)验证期间大多采用行为级模型(behavior model)的形式进行基本的连接性的验证。但随着当今世界在集成电路方面的电路的复杂度越来越高,规模越来越大,SoC或者MCU集成的模拟模块也越来越多,越来越复杂,数模验证的复杂度剧增。当前集成电路模拟电路在 SoC 验证中多采用行为级模型,但其无法真实反映模拟行为,导致数模交互相关特性需回片测试验证,且模拟独立验证难以收集覆盖率,影响验证完备性。因此,本文阐述一种基于SoC的数模混合验证DMS(Digital Mixed-Signal models)的平台实现方法,以解决芯片级数模交互的功能、时序、低功耗功能、低功耗指标等只能等到回片测试才能检验的正确性,提升验证的完备性等。


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作者信息:

李密,徐荣文,陈旭江,张鑫全

(小华半导体有限公司,上海 201210)

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