引言
数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)片上一般集成了Flash存储器,片上Flash以二进制码的形式存储用户应用程序及数据,可在DSP芯片掉电后保持数据不丢失。鉴于片上Flash的非易失性、低功耗等优点,集成片上Flash的DSP芯片已广泛应用在数字电源、伺服控制以及智能电网等领域[1]。
为保证片上Flash存储器的可靠性,在DSP芯片筛选考核试验中,Flash擦写耐久和数据保持测试是最重要的试验之一[2]。Flash存储器测试方法主要分为内建自测试和外部测试,其中内建自测试方法受限于固定的测试电路,难以保证测试覆盖率;外部测试又分为自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)和板级专用工装测试,由于Flash全地址空间擦写耐久和数据保持测试时间长、测试向量较大,利用ATE机台测试DSP片上Flash效率低且成本高[3]。
针对内建自测试和外部ATE机台测试的局限性,本文提出了一种DSP片上Flash测试系统的设计与实现方法,详细介绍了片上Flash存储器测试方案、系统硬件设计以及软件开发等。该系统可实现多工位DSP片上Flash存储器自动化测试,上电后被测DSP芯片通过SPI接口在线加载测试程序,工作状态可实时显示。上述过程无需人工参与,提高了测试效率,降低了测试成本。同时测试过程中的数据和结果自动存储在外部EEPROM中,便于后期进行测试结果统计分析,为进一步提高DSP片上Flash测试效率和故障覆盖率提供依据[4]。
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作者信息:
王涛,于鹏,钱昀莹
(中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214062)

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